代理品牌 Agency
Anton Paar
安東帕總部位於奧地利格拉茨，在全球另設了 10 家生產子公司和 35 家銷售子公司。安東帕是密度、濃度和 CO2 以及流變測量領域的全球領導者進行開發、生產和銷售高精度的實驗室儀器和製程測量系統，並提供為客人量身定制的自動化解決方案。
長期以來安東帕提供高階實驗室儀器：密度計、折光儀、旋光儀、樣本製備與合成儀器、黏度計、流變儀及材料特性分析儀器。
- 動態光散射DLS
- 雷射繞射粒徑DIF
- 動態圖像DIA
- 黏度計
- 應用與新聞
動態光散射儀 Litesizer DLS
Litesizer DLS 系列是按下按鈕即分析奈米和微粒特性的理想選擇。借助這些動態光散射儀器，您可以在較寬的濃度範圍內測定分散體中的顆粒以及溶液中的肽或大分子，從而縮短樣品製備時間。 全新機型Litesizer DLS 701 還提供螢光和偏振濾光片，不僅用於粒徑測量，還用於 MAPS 三角度和單角度模式下的顆粒濃度測量。
- 三個角度，即時監控，更好地調整尺寸
- 提供三種不同檢測角度的選擇，以測量各種樣品，同時透過自動角度選擇消除錯誤
- 多角度粒徑 (MAPS) 測量模式提供卓越的分辨率，支援先進的分析精確度 - 市場領先的 zeta 電位分析
- cmPALS 專利技術經過獨特設計，可消除因老化效應引起的再現性不確定性
- Omega Cuvette的創新設計最大限度地減少了電場梯度，進一步提高了再現性 (±3 %) - Kalliope：粒徑的標準軟體
- 可自訂的報表範本、Excel 匯出選項和進階分析功能
- 完全符合21 CFR Part 11的規定
| DLS 101 | DLS 501 | DLS 701 | |
|---|---|---|---|
| Light source | Semiconductor laser / 40 mW, 658 nm | ||
| Dimensions (WxDxH) | 450 mm x 505 mm x 135 mm | ||
| Particle size range | 0.3 nm – 10 μm | 0.3 nm – 12 μm | 0.3 nm – 12 μm |
| Measurement angles | 175° | 15°, 90°, 175° | 15°, 90°, 175° |
| MAPS | |||
| Zeta potential range | - | > ±1,000 mV | > ±1,000 mV |
| Particle concentration range | - | - | 108 - 1013 particles/mL |
| Molecular mass range | - | 300 Da to 20 MDa | 300 Da to 20 MDa |
| Refractive Index | - | 1.28 to 1.50 | 1.28 to 1.50 |
| Transmittance | Real time | Real time | Real time |
雷射繞射粒徑分析儀 Litesizer DIF
Litesizer DIF 500 提供從 10 nm 到 3.5 mm 的先進粒徑測量，依據近 60 年的雷射繞射專業知識。這款雷射繞射粒徑分析儀擁有一流的光學設定，具有強大的 10 mW 和 25 mW 雷射以及市場上最寬的檢測繞射角範圍（0.01°-170°）。
- 廣泛顆粒分析
- 涵蓋 0.01 µm 至 3,500 µm 的粒徑 - 有效的分散
- 可連接分散單元，不需煩惱於電線、管道或管子
- 可在液體與乾式分散之間切換 - 任何環境下的測量
- 堅固的金屬外殼包裹著耐用的光學元件
- 儀器內部與生產現場可能的直接震動是隔離的 - Kalliope：粒徑的標準軟體
- QC 模式藉由自定義使用者管理
- 完全符合21 CFR Part 11的規定
| DIF 500 | ||
|---|---|---|
| Dimensions | 400 mm x 790 mm x 290 mm (H x W x D) | |
| Measurement principle | Laser Diffraction (Mie and Fraunhofer scattering) | |
| Measurement range | 0.01 μm – 3,500 μm | |
| LIGHT SOURCE 1 | Type | Fiber coupled laser diode |
| Wave length | 830 nm, infrared | |
| Power | 10 mW | |
| LIGHT SOURCE 2 | Type | Laser diode |
| Wave length | 450 nm, blue | |
| Power | 25 mW | |
| DETECTORS | 0.01° to 170° | |
動態圖像分析儀 Litesizer DIA
動態圖像分析儀 Litesizer DIA系列，可以透過分 析粒子的直接圖像輕鬆且可靠地特性分析粒子的大小和形狀。只需一步，即可在使用分散液、壓縮空氣或自由落體的三個模組之間快速切換，並獲得出色的樣品分散效果。仰賴自動化功能，例如調整進料速度和沖洗液體，只需最少的培訓即可著手進行測量。
- 同時測量
- 大小範圍從0.5微米到16,000微米，並在大樣本中檢測單一異常粒子
- 市場領先的液體分散體，範圍可達 2,500 µm - 輕鬆切換
- 一台動態圖像分析儀，三台分散體裝置
- 液體流動(分散液體)、乾噴射(壓縮空氣)和自由落體(重力落體) 點擊功能輕鬆切換 - 自動化
- 自動優化樣品進料速度、自動化填充、排放和沖洗任務 - Kalliope：粒徑的標準軟體
- 分析粒子的大小、形狀和影像
- 完全符合21 CFR Part 11的規定
| DIA 700 | DIA 500 | DIA 100 | |
|---|---|---|---|
| Measurement principle | Dynamic Image Analysis | ||
| Camera | 5 Mpix (2448 x 2048 pixels) | ||
| Data collection rate | 220 fps/camera at 5 Mpix | 144 fps/camera at 5 Mpix | 20 fps/camera at 5 Mpix |
| Resolution | 0.5 μm per pixel | 0.8 μm per pixel | 10 μm per pixel |
| Magnification | 0.3x, 1x and 6x | 0.3x and 4x | 0.3x |
| Liquid Flow range | 0.5 μm to 2,500 μm | 0.8 μm to 2,500 μm | 10 μm to 2,500 μm |
| Dry Jet range | 0.5 μm to 5,000 μm | 0.8 μm to 5,000 μm | 10 μm to 5,000 μm |
| Optical Features | Automatic switch between objectives | ||
| Automatic merge of size ranges | |||
| All magnifications are included in the standard configuration | |||
旋轉式黏度計 ViscoQC
ViscoQC 旋轉黏度計可確保從液體到半固體的物質品質。 透過最簡單的轉子更換機制、自動轉子檢測、新配方的自動速度搜索功能，消除測量錯誤的風險，並節省您的時間和預算。如果使用相同的設定和設定值，則可以輕鬆轉換現有的 SOP。
- 使用簡單
- ViscoQC 已預先組裝，不到兩分鐘即可設定完成
- 帶有磁吸式的轉子，可輕鬆快速地單手更換轉子 - 可追溯性
- 獨特的 Toolmaster™ 功能，黏度測量防錯且 100% 可追溯
- 內建數位水平儀自動監控
- 全範圍精度 ± 1 % - 使用配件升級
- PTD 80 – 用於快速、準確地控制樣品溫度(+15 °C 至 +80 ℃)
- PTD 175 – 高性能溫度控制
- PTD 100 Cone-Plate – 適用於 0.5 mL 到 2 mL 的小樣品量
- ETD 300 – 適用於瀝青和熱熔膠的高溫測量
- Heli-Plus – 適用於凝膠、糊劑和霜劑等非流動物質 - 品質控制
- V-Collect PC 資料收集軟體
- 完全符合21 CFR Part 11、GMP和GAMP 5 的規範
| ViscoQC 100 | ViscoQC 300 | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| L | R | H | L | R | H | |
| 黏度測試類型 | 單點 | 多點 | ||||
| 黏度範圍 [mPa.s] | 0.2 - 6 M | 1.6- 40 M | 13.2-320 M | 0.1 - 6 M | 1.3 - 40 M | 10.6-320 M |
| 轉度 [rpm] | 0.1 至 200 740 增量 |
0.01 至 250 可自由選擇範圍內的轉速 |
||||
| 最大彈簧扭矩 [mNm] | 0.0673 | 0.7187 | 5.7496 | 0.0673 | 0.7187 | 5.7496 |
| 準確度 | ±1.0 % 全測量範圍 | |||||
| 可重複性 | ±0.2% | |||||
| 顯示器 | 3.5 吋彩色 LCD | 7 吋彩色觸控式螢幕 | ||||
DLS 混濁樣本的分析
許多顆粒的懸浮液是混濁的狀況下含有高濃度的顆粒或強散射顆粒，因此關於DLS用於分析混濁樣品的有效性存有爭議。
- 多重散射現象
當DLS的雷射光源進入樣品，促發散射，離開樣品，最後檢測，這被稱為“單次散射”，然而，在混濁的樣品中。顆粒濃度可能非常高或當光穿過樣本的路徑長度可能非常長，以導致光會多次散射，這被稱為”多重散射”，而導致測量不一致或錯誤。 - 預防多重散射現象
為了避免多重散射發生DLS會使用背向散射175°分析，會減少光打入樣品時的路徑長度，進而減少光與相互作用的粒子數量，大大降低多次散射的可能性。因此，混濁的、濃縮的樣品測量時，透過沿著雷射的方向自動調整透鏡，靠近比色皿進行測量可以最大限度地縮短光穿過樣本的路徑長度 (圖1.B)，減少發生多重散射的機會。
結論
先進的DLS儀器中DLS 501、DLS 701可以透過即時評估樣品的透光率與檢測到光的強度來確定最佳散射角度、雷射焦點位置和多角度分析(DLS 701)，儘管是混濁、濃縮的樣品仍可以產生高品質、可靠的數據。
圖 1：顯示雷射焦點位置的示意圖。 (A)小的、弱散射顆粒：雷射聚焦在比色皿中間。(B)濃縮的、渾濁的樣品：透鏡將雷射聚焦到更靠近比色皿壁的位置